驅(qū)動(dòng)控制器快速溫變?cè)囼?yàn)箱

快速溫變?cè)囼?yàn)箱

產(chǎn)品用途：快速溫變?cè)囼?yàn)箱適用于***工業(yè),航空工業(yè)、自動(dòng)化零組件,汽車部件,電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品,塑膠,化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)。

產(chǎn)品執(zhí)行及符合部分標(biāo)準(zhǔn)：

1、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-2006 (IEC68-2-1)

2、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-2006（IEC68-2-2）

3、GJB150.3（ML-STD-810D）高溫試驗(yàn)方法

4、GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗(yàn)方法

5、GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》

6、GB/T10592-2008《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

7、GB/T10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

8、GB/T11158-2008《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

驅(qū)動(dòng)控制器快速溫變?cè)囼?yàn)箱

快速溫變?cè)囼?yàn)箱，又稱快速溫變化試驗(yàn)箱、應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱，適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在快速高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度變化試驗(yàn)。

產(chǎn)品用途：

TEB系列快速溫變?cè)囼?yàn)箱主要用于考察產(chǎn)品熱機(jī)械性能引起的失效，溫度變化率一般小于20℃/分，實(shí)現(xiàn)以快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測(cè)樣件應(yīng)用環(huán)境條件。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時(shí)，溫度循環(huán)試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評(píng)估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問題的有效方法。